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ICT测试治具

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上下针板结构:测试点可双面选点,方便电路板布线设计。

凸形孔制程,提高探针准确度。

使用可调试培林座,容易保养。
 
随治具附赠Test-Link软体,可缩短PCB维修工时

针板FTP材质,不易变形,长久使用不影响探针准确度。

可安装HP Test Jet Teradyne FramScan+功能之感应板放大器。

适用于单双面有测试点的待测板,如:Notebook,及零件高度较低之待测板。
 
采用铝框Kit,优点:(optional)

a) 可回收,符合ISO14000环保要求。

b) 具有防静电功能。

c) 美观,耐用。品质佳

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